108-78434
製品規格
製品規格製品規格
製品規格
Product Specification 17JUL09 Rev B
タイコ エレトロニクス アンプ 株式会社神奈川県川崎市高津区久本 3-5-8 Tel:044-844-8079 Fax:044-812-3203 1 of 7
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＊商標
MICRO USB CONNECTOR
1. 適用範囲
1.1 1.1
内容
本規格はMICRO USB CONNECTOR の製品性能、試験方法、
品質保証の必要条件を規定している。
適用製品名と型番は附表１の通りである。
１
1 Scope:
1.1 Contents
This specification covers the requirements for
product performance, test methods and quality
assurance provisions of MICRO USB CONNECTOR.
Applicable product description and part numbers are
as shown in Appendix 1.
2. 参考規格類
以下規格類は本規格中で規定する範囲内に於いて、本
規格の一部を構成する。万一本規格と製品図面の間に
不一致が生じた時は、製品図面を優先して適用するこ
と。万一本規格と参考規格類の間に不一致が生じた時
は、本規格を優先して適用すること。
2. Applicable Documents:
The following documents form a part of this
specification to the extent specified herein. In
the event of conflict between the requirements of
this specification and the product drawing, the
product drawing shall take precedence. In the
event of con
flict between the requirements of this
specification and the referenced documents, this
specification shall take precedence.
2.1 TE AMP規格
A. 109-5000: 試験法の一般条件
B. 501-5914: 認定試験報告書
2.1 TE AMP Specifications:
A. A
. 109-5000: Test Specification, General
Requirements for Test Methods
B. 501-5914: Qualification Test Report
2.2 民間団体規格
A. ANSI/EIA 364-C
B. USB cables and Connectors Class Document
Revision 2.0
2.2 Commercial Standards and Specifications
A. ANSI/EIA 364-C
B. USB cables and Connectors Class Document
Revision 2.0
Product Specification 108-78434
Rev. B 2 of 7
3. 一般必要条件 3. Requirements:
3.1 設計と構造
製品は該当製品図面に規定された設計、構造、物理
的寸法をもって製造されていること。
3.1 Design and Construction:
Product shall be of the design, construction and
physical dimensions specified on the applicable
product drawing.
3.2 材 料
A. コンタクト （プラグ＆リセプタクル）
材質：銅合金
B. ハウジング (プラグ＆リセプタクル)
材質：熱可塑性樹脂
C. シェル （プラグ＆リセプタクル）
材質：ステンレス
D. ロックレバー（プラグ）
材質：ステンレス
3.2 Materials:
A. Contact (Plug & Receptacle)
Material: Copper alloy
B. Housing (Plug & Receptacle)
Material: Thermo Plastic
C. Shell(Plug & Receptacle)
Material: Stainless steel
D. Lock lever (plug)
Material: Stainless steel
3.3 定 格
A. 定格電圧 30V 以下
B. 定格電流
①. 1, 5 pin 1.8A以下
2, 3 & 4 pin 0.5A以下
②. 2, 3 & 4 pin 1A以下
C. 使用温度範囲 -30℃～85℃（コネクタ温度上昇含
む）
D. 保存温度範囲 -30℃～85℃
3.3 Ratings:
A. Voltage Rating: 30V MAX
B. Current Rating
①. 1, 5 pin 1.8A Max
2, 3 & 4 pin 0.5A Max
②. 2, 3 & 4 pin 1A Max
C. Temperature Rating: -30℃ to 85℃ (Including
temperature rising.)
D. Storage Temperature: -30℃ to 85℃
3.4 性能必要条件と試験方法
試料は完全に管理された製品を使用し、プリント基板を
使用する場合は、本コネクタ推奨基板に適合したものを
使用すること。試験は特別に規定されない限り以下に示
す環境条件のもとで行われること。
温度:15℃～35℃、湿度:45%～75%(RH)
気圧:650mmHg～800mmHg
3.4 Performance Requirements and Test
Descriptions: Test specimens must be completely
controlled products, and the printed circuit
boards must be recommended.
All tests are performed
at following condition unless otherwise specified.
Temperature:15℃～35℃
Humidity :45%～75% R.H.
Pressure :650mmHg～800mmHg
Product Specification 108-78434
Rev. B 3 of 7
3.5 性能必要条件と試験方法の要約
3.5 Test Requirements and Procedures Summary
項目 試験項目 規 格 値 試 験 方 法
Para. Test Items Requirements Procedures
3.5.1 製品の確認 製品図面の必要条件に合致して
いること
目視により、コネクタの機能上支障をきた
す損傷を検査する。
3.5.1 Examination of Product
Meets requirements of product
drawing.
Visual inspection
No physical damage
電 気 的 性 能
Electrical Requirements
3.5.2 接触抵抗
(ローレベル)
初期 30mΩ以下
終期 ⊿R=±10mΩ以下
開路電圧 20 mV 以下、閉路電流 100 mA 以
下の条件で測定する。
4端子法
Fig.2参照
3.5.2 Contact Resistance
(Low Level)
Initial : 30mΩ Max
Final : ⊿R=±10mΩ Max
4-wire Kelvin
All contacts measured
20 mV Maximum open circuit at 100 mA
Maximum.
4-wire Kelvin
All contacts measured
Refer to Fig.2
3.5.3 絶縁抵抗 初期 1000MΩ 以上
終期 100 MΩ 以上
嵌合したコネクタの隣接コンタクト間に
500VDC を2分間以下、もしくは安定するま
で印加。
3.5.3 Insulation Resistance Initial : 1000MΩ Min
Final : 100 MΩ Min
Apply 500V DC
between adjacent contacts
for two minutes maximum, or until
stabilized , mated.
3.5.4 耐電圧 沿面放電、フラッシュオーバー
がないこと。
嵌合したコネクタの隣接コンタクト間に
100VACを1分間印加。
3.5.4 withstanding Voltage No breakdown or flashover 100VAC for one minute ,mated
Fig.1 （続く） Fig.1 (CONT.)
Product Specification 108-78434
Rev. B 4 of 7
項目 試験項目 規 格 値 試 験 方 法
Para. Test Items Requirements Procedures
機 械 的 性 能
Mechanical Requirements
3.5.5 挿入力 35N 以下 操作速度 12.5mm/分 以下
3.5.5 Mating Force 35N Max
Measure force to mate at a rate of 12.5mm
per minute maximum.
3.5.6 抜去力 8N 以上 操作速度 12.5mm/分 以下
3.5.6 Unmating Force 8N Min
Measure force to mate at a rate of 12.5mm
per minute maximum.
3.5.7 耐久性 損傷がなく、後のテストの必要
条件に合致すること。
10,000 cycles
1時間に500 cycles 以下。
3.5.7 Durability
No physical damage and shall
meet requirements of
subsequent tests.
10,000 cycles
Cycle rate of 500 cycles per hour max.
3.5.8 振動 1.0 microsecond 以上の瞬断な
きこと。
3垂直平面に対して、15分間 5.35 GRMSの
振動を与える。
EIA 364-28 Test Condition V
Test letter A
3.5.8 Vibration No contact chatter greater
than 1.0 microsecond.
5.35 GRMS for 15 minutes in each of three
mutually perpendicular planes.
EIA 364-28 Test Condition V
Test letter A
3.5.9 ケーブル保持力 40N 以上 コネクタの軸に沿って1分間ケーブルに力
を与える。
3.5.9 Cable pull out 40N Min Apply steady state axial load to the
cable for one minute.
3.5.10 はんだ付け性 Pbフリーはんだ温度: 255±5℃
95％以上ぬれていること
255±5℃で5+0/-0.5秒間
3.5.10 Solderability
Solderable area shall have a
minimum of 95% solder
coverage. For lead fr
ee solder
pot temperature shall be +255
℃±5℃
255±5℃, for 5+0/-0.5 seconds.
3.5.11 衝撃 1.0μs 以上の瞬断なし。 30Gs、6msの1/2正弦波 6方向にそれぞれ
3回行う。(合計18回)
EIA 364-27 Test condition H
3.5.11 Shock No contact chatter greater
than 1.0 microsecond.
30Gs 6ms 1/2 sine
each 3shocks for 6 axes(Total 18shocks)
EIA 364-27 Test condition H
Fig. 1 （続く） Fig. 1 (CONT.)
Product Specification 108-78434
Rev. B 5 of 7
項目 試験項目 規 格 値 試 験 方 法
Para. Test Items Requirements Procedures
環 境 的 性 能
Environmental Requirements
3.5.12 耐熱性 外観に異常なきこと。
後のテストの必要条件に合
致すること。
嵌合したコネクタ
+85℃ 500時間放置。
3.5.12 Temperature Life No physical damage and
shall meet requirement of
subsequent test.
+85℃ for 500 hours mated.
3.5.13 熱衝撃 外観に異常なきこと。
後のテストの必要条件に合
致すること。
嵌合したコネクタに対して-55℃、+85℃そ
れぞれ15分ずつかける。これを1サイクル
として、10サイクル行う。
EIA 364-32 Test Condition I
3.5.13 Thermal Shock No physical damage and
shall meet requirement of
subsequent test.
-55℃,+85℃, 15 minutes at each
temperature , and 10 cycles , mated.
EIA 364-32 Test Condition I
3.5.14 温湿度サイクル 外観に異常なきこと。
後のテストの必要条件に合致
すること。
嵌合したコネクタを湿度95% 25℃、65℃
の条件に７サイクル放置。
EIA 364-31 Test Condition A Method Ⅲ
3.5.14 Humidity – Temperature
Cycling
No physical damage and
shall meet requirements of
subsequent tests.
25℃ and 65℃
at 95% RH, seven cycles ,
mated.
EIA 364-31 Test Condition A Method Ⅲ
3.5.15 ガス耐久性 外観に異常なきこと。 コネクタをEIA 364-65 ClassⅡAの条件に
合計10日間放置する
5日間(嵌合なし)
5日間(嵌合あり)
(ClassⅡA: RH% 70±2, Temp℃ 30±1, Cl2
10±3ppb, NO2 200±50ppb, H2S 10±
5 ppb,
SO2 100±20ppb)
3.5.15 Mixed Flowing Gas No physical damage. EIA 364-65 ClassⅡA for total 10 days.
5days(unmated)
5days(mated)
(ClassⅡA: RH% 70±2, Temp℃ 30±1, Cl2
10±3ppb, NO2 200±50ppb, H2S 10±
5 ppb,
SO2 100±20ppb)
Fig. 1 （終り） Fig. 1 (End.)
Product Specification 108-78434
Rev. B 6 of 7
3.6 製品認定試験の試験順序
3.6 Product Qualification Test Sequence
試験グループ/Test Group
1 2 3 4 5
Test Ref. Test Examination
試験順序/Test Sequence (a)
3.5.1 Examination of Product 1,10 1,5 1,7 1,8 1,3
3.5.2 Contact Resistance (Low Level) 3,7 2,4 2,4,6
3.5.3 Insulation Resistance 2,6
3.5.4 Dielectric withstanding Voltage 3,7
3.5.5 Mating Force 2
3.5.6 Unmating Force 8
3.5.7 Durability 4
3.5.8 Vibration 6(b)
3.5.9 Cable pull out 9
3.5.10 Solderability 2
3.5.11 Shock 5(b)
3.5.12 Temperature Life 3
3.5.13 Thermal Shock 4
3.5.14 Damp Heat, Cyclic 5
3.5.15 Mixed Flowing Gas 3,5
(a) 欄内の数字は試験の順序を示す。 / Numbers indicate sequence in which the tests are performed.
(b) この試験項目には、試験中不連続導通が発生してはならない。
Discontinuities shall nit take place in this test examination, during tests.
Product Part No. Description Remarks
1981584-1 Micro USB Receptacle type AB Standard mount
1981568-1 Micro USB Receptacle type B Standard mount
2013499-1 Micro USB Receptacle type B Dip 2 legs Trough hole mount
2069746-1 Micro USB Receptacle type B Dip short 2 legs Trough hole mount
2040002-1 Micro USB Receptacle type B Dip 4 legs Trough hole mount
2040343-2 Micro USB Receptacle type B Mid Mount
1939053-x Micro USB plug type A cable kit --
1939054-x Micro USB plug type B cable kit --
付表1 Appendix 1
Product Specification 108-78434
Rev. B 7 of 7
Fig.2 Measuring method of contact resistance
