SFH 221 S
Semiconductor Group 401
Dunkelstrom, VR = 10 V
Dark current IR10 (≤ 100) nA
Spektrale Fotoempfindlichkeit, λ = 850 nm
Spectral sensitivity Sλ0.55 A/W
Maximale Abweichung der
Fotoempfindlichkeit vom Mittelwert
Max. deviation of the system spectral
sensitivity from the average
∆S±5%
Quantenausbeute, λ = 850 nm
Quantum yield η0.80 Electrons
Photon
Leerlaufspannung, Ev = 1000 Ix
Open-circuit voltage VL330 (≥280) mV
Kurzschluβstrom, Ev = 1000 Ix
Short-circuit current IK24 µA
Isolationsstrom, VIS = 100 V
Insulation current IIS 0.1 (≤1) nA
Anstiegs und Abfallzeit des Fotostromes
Rise and fall time of the photocurrent
RL= 1 kΩ; VR= 5 V; λ = 850 nm; Ip = 25 µA
tr,tf500 ns
Durchlaβspannung, IF= 40 mA, E = 0
Forward voltage VF1.0 V
Kapazität, VR= 0 V, f= 1 MHz, E = 0
Capacitance C025 pF
Temperaturkoeffizient für VL
Temperature coefficient of VL
TCV–2.6 mV/K
Temperaturkoeffizient für IK
Temperature coefficient of IK
TCI0.18 %/K
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
Noise equivalent power
VR= 10 V, λ = 850 nm
NEP 1.0 x 10–13 W
√Hz
Nachweisgrenze, VR= 10 V, λ = 850 nm
Detection limit D* 1.2 x 1012 cm · √Hz
W
Kennwerte (TA = 25 oC, Normlicht A, T = 2856 K) für jede Einzeldiode
Characteristics (TA = 25 oC, standard light A, T = 2856 K) per single diode
Bezeichnung
Description Symbol
Symbol Wert
Value Einheit
Unit