VACUUMSCHMELZE
DATENBLATT / Specification
Sach Nr.:
Item no.:
T60406-A6131-X033
(ZKB 613/133-80)
K-Nr.:
K-no.: Transduktordrossel Datum:
Date: 03.02.1997
Kunde:
Customer Typenelement Kd. Sach Nr.:
Customers part no.:
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Hrsg.: KB-FB FT Bearb:
Lo.
KB-PM B: Kei.
freig.: Lo.
Weitergabe sowie Vervielfältigung dieser Unterlage, Verwertung und Mitteilung ihres Inhalts nicht gestattet, soweit nicht ausdrücklich zugestanden. Zuwiderhandlungen verpflichten zu Schadenersatz. Alle
Rechte für den Fall der Patenterteilung oder GM-Eintragung vorbehalten
Maßbild (mm): Freimaßtoleranz DIN ISO 2768-c
Mechanical outline General Tolerances
ó
24
18
15,24
12 10 7,62
ó
26
0,2
1
5Toleranz der Stiftabstände ñ
0,3mm
(Tolerances grid distance)
DC = Date Code
F = Factory
0,35
3,5-0,5
DC
F
4
8
Anschlußschema:
Schematic diagram
1
5
I
4
8
II
Betriebsdaten/Charakteristische Daten (Richtwerte):
Operational data/characteristic data (nominal values):
Reihenschaltung:
IAo = 4,5 A bei τHmax = 0,45
∆UAmax/f = 0,4 V / kHz
∆UAmin/f = 0,03 V / kHz
Parallelschaltung:
IAo = 9 A bei τHmax = 0,45
∆UAmax/f = 0,2 V / kHz
∆UAmin/f = 0,015 V / kHz
TU, amb ≤ 60° C
Endprüfung: (V: 100%-Test; AQL...: DIN ISO 2859-Teil1)
Final inspection
1.) (AQL 0,25) M 3210 Einstellwerte (NI) Prüfwerte
settings (NI) test values
2.1 Î1 = 510 mA ΦS = 134 µVs +20 % - 15 %
2.2 Î1 = 510 mA ∆ΦRS ≤ 11,5 µVs
2.3 f = 30 kHz PFe ≤ 175 mW
IU1I = 11 V
2.) (AQL 1/S4) RCuI = RCuII ≤ 27 mΩ*
*vorläufig
3.) (AQL 1/S4) M 3029 Lötbarkeitstest
Soldering test
Messungen nach Temperaturangleich der Prüflinge an Raumtemperatur
Measurements after temperature balance of the samples at room temperature
Weitere Vorschriften:
Applicable documents: Sockeltrog: UL - gelistet
Datum Name Index Änderung
11.10.96 Lo. 80 Beschriftung geändert.
Anschlüsse:
Connections:
Cu-verz. ∅ 0,71 mm
X033 F
ü = 1 : 1
VACUUMSCHMELZE
DATENBLATT / Specification
Sach Nr.:
Item no.:
T60406-A6131-X033
(ZKB 613/133-80)
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K-no.: Transduktordrossel Datum:
Date: 03.02.1997
Kunde:
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Lo.
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