BPX 48
2007-04-04 3
Max. Abweichung der Fotoempfindlichkeit der
Systeme vom Mittelwert
Max. deviation of the system spectral sensitivity
from the average
ΔS± 5 %
Quantenausbeute
Quantum yield
λ = 850 nm
η
0.8
Electrons
Photon
Leerlaufspannung
Open-circuit voltage
Ev = 1000 Ix, Normlicht/standard light A,T = 2856 K
VO
330 (≥ 280)
mV
Kurzschlussstrom
Short-circuit current
Ev = 1000 Ix, Normlicht/standard light A,T = 2856 K
ISC
24
μA
Anstiegs- und Abfallzeit des Fotostromes
Rise and fall time of the photocurrent
RL = 1 kΩ; VR = 5 V; λ = 850 nm; Ip = 20 μA
tr, tf500 ns
Durchlassspannung, IF = 40 mA, E = 0
Forward voltage VF1.3 V
Kapazität, VR = 0 V, f = 1 MHz, E = 0
Capacitance C025 pF
Temperaturkoeffizient von VO
Temperature coefficient of VO
TCV– 2.6 mV/K
Temperaturkoeffizient von ISC
Temperature coefficient of ISC
Normlicht/standard light A
TCI
0.18
%/K
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
Noise equivalent power
VR = 10 V, λ = 950 nm
NEP 1.0 × 10– 13
Nachweisgrenze, VR = 10 V, λ = 950 nm
Detection limit D* 1.2 × 1012
Kennwerte (TA = 25 °C) für jede Einzeldiode
Characteristics (TA = 25 °C) per single diode system (cont’d)
Bezeichnung
Parameter Symbol
Symbol Wert
Value Einheit
Unit
W
Hz
------------
cm Hz×
W
--------------------------